產品特色 Benefits
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陣列式超音波水沫法(PE)
搭配專利的Reversed Phasing Contour Adaption Method, 可自動改變晶片驅動的順序以符合複材曲率的改變
適合檢測複材疊層(skin)表面,包含內外R角 -
陣列式超音波Stringer Bubbler
專利的檢測方法,可以一次掃描就檢測飛機T型橫樑(T-Shaped Stringer)
US Pat. No. 8,833,169
UK Pat. No. 249718B
搭配專利的Reversed Phasing Contour Adaption Method, 可自動改變晶片驅動的順序以符合複材曲率的改變
適合檢測複材疊層(skin)表面,包含內外R角
專利的檢測方法,可以一次掃描就檢測飛機T型橫樑(T-Shaped Stringer)
US Pat. No. 8,833,169
UK Pat. No. 249718B